電子元器件失效分析服務
電子元器件失效分析服務
百檢網電子元器件失效分析電商平臺,百檢網匯聚全國800多家實驗室和檢測機構,實驗室具備CMA和CNAS檢測資質,出具國內外的檢測報告。百檢為您提供一對一的檢測服務,全國可免費上門取樣,電子元器件失效分析周期短,檢測價格實惠。做檢測就到百檢網!
檢測周期:7-15個工作日
報告類型: 電子報告、紙質報告(中文報告、英文報告、中英文報告)
報告資質: CMA;CNAS
服務地區(qū): 全國,實驗室就近分配
檢測用途: 電商平臺入駐;商超賣場入駐;產品質量改進;產品認證;出口通關檢驗等
樣品要求: 樣品支持快遞取送/上門采樣,數(shù)量及規(guī)格等視檢測項而定
檢測費用: 在線咨詢 400-1017153
電子元器件技術的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎,元器件可靠性工作的根本任務是提高元器件的可靠性。
電子元器件失效模式
開路,短路,漏電,功能失效,電參數(shù)漂移,非穩(wěn)定失效等
電子元器件主要涉及的檢測項目
電測 | 連接性測試、電參數(shù)測試、功能測試 |
無損檢測 | 射線檢測技術( X 射線、γ 射線、中子射線等),工業(yè)CT,康普頓背散射成像(CST)技術,超聲檢測技術(穿透法、脈沖反射法、串列法),紅外熱波檢測技術,聲發(fā)射檢測技術,渦流檢測技術,微波檢測技術,激光全息檢驗法等。 |
制樣技術 | ①開封技術(機械開封、化學開封、激光開封) ②去鈍化層技術(化學腐蝕去鈍化層、等離子腐蝕去鈍化層、機械研磨去鈍化層) ③微區(qū)分析技術(FIB、CP) |
顯微形貌分析 | 光學顯微分析技術、掃描電子顯微鏡二次電子像技術 |
表面元素分析 | 掃描電鏡及能譜分析(SEM/EDS)、俄歇電子能譜分析(AES)、X射線光電子能譜分析(XPS)、二次離子質譜分析(SIMS) |
無損分析技術 | X射線透視技術、三維透視技術、反射式掃描聲學顯微技術(C-SAM) |
電子元器件失效分析流程
(1)失效背景調查:產品失效現(xiàn)象?失效環(huán)境?失效階段(設計調試、中試、早期失效、中期失效等等)?失效比例?失效歷史數(shù)據(jù)?
(2)非破壞分析:X射線透視檢查、超聲掃描檢查、電性能測試、形貌檢查、局部成分分析等。
(3)破壞性分析:開封檢查、剖面分析、探針測試、聚焦離子束分析、熱性能測試、體成分測試、機械性能測試等。
(4)使用條件分析:結構分析、力學分析、熱學分析、環(huán)境條件、約束條件等綜合分析。
(5)模擬驗證實驗:根據(jù)分析所得失效機理設計模擬實驗,對失效機理進行驗證。
電子元器件失效分析報告辦理流程:
咨詢溝通:確認客戶檢測項目,檢測標準,檢測要求,并填寫測試申請表
提供樣品:樣品可選擇寄送或者上門檢測
簽約付款:確認委托后,安排打款,收款后通知開案
分析測試:根據(jù)測試申請表安排測試
出具報告:根據(jù)測試申請表及檢測結果出具報告,委托方確認無誤后,檢測報告簽字蓋章
寄送報告:檢測報告簽字蓋章后連同發(fā)票寄送
增值服務:檢測樣品保留2個月
百檢網平臺服務質量承諾
行為公正: 自覺遵守公正性聲明。
方法科學: 遵循科學求實原則,嚴格按照規(guī)定的方法從事校準工作。
結果: 證書規(guī)范嚴謹、數(shù)據(jù)可靠。
工作: 根據(jù)實際情況和客戶需求,不斷改進業(yè)務流程,確保校準工作在承諾的時間內完成。
客戶滿意: 主動了解客戶需要, 提供服務, 及時受理和處置客戶的投訴,提供快捷、方便的后續(xù)服務.
百檢網專業(yè)的第三方電子元器件失效分析機構,有各種電子元器件失效分析需求及詳情免費咨詢機構在線顧問:400-101-7153,
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關鍵詞: 電子元件失效分析,失效分析
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